檢測質量糾紛

有一批工件的孔徑（Φ36 +0.025/0）采用了兩種方法進行測量。
測量方法一：用三坐標測量機測量，工件孔徑全部在Φ36.030mm左右，判定此批工件全部報廢。
測量方法二：用光滑極限量規(guī)檢驗，塞規(guī)止端尺寸為Φ36.025mm，工件孔徑全部能夠止住，判定此批工件全部合格。
不同的檢測方法產生完全相反的測量結果，哪種方法更加科學？
提示：工件孔徑的圓度誤差為0.01mm。

請用理論對該質量糾紛進行仲裁。

當然應該以用光滑極限量規(guī)檢驗的結果作為測量糾紛仲裁的依據。因為光滑極限量規(guī)是圓柱工件作用尺寸的綜合檢驗量具。三坐標測量機只能測量單一尺寸，通過采若干個被測點計算該截面的尺寸。而且計算中將會把圓度誤差帶入，以采樣三個點為例，如果在接近長軸的位置采2個點，在接近短軸的位置采1個點，計算出來的直徑就會比真實的尺寸大很多。即便是均勻采點也會把長軸對直徑測量的影響帶入，造成尺寸偏大。

[ 本帖最后由 規(guī)矩灣錦苑 于 2009-1-11 17:47 編輯 ]

個人認為，兩種方法都不合理。
首先，對于大批量生產企業(yè)來說，這樣的一個尺寸用三坐標機來進行測量，工作效率很低。其次，用光滑極限塞規(guī)來檢驗，其只對被測尺寸的最小尺寸負責，而您的被測孔徑的圓度誤差為0.01mm。
就這兩種結果來看，還是應該以三坐標的檢測結果為準，建議你用DIATEST的專用測頭進行檢測，其結果更為準確，可同時得出孔徑和圓度，我的聯(lián)系方式您已經有了，我會盡快把相關資料提供給您，供您參考。

個人看法
首先工件的孔徑要求是（Φ36 +0.025/0），精確到微米
而工件孔徑的圓度誤差就已經達到0.01mm，所以用三坐標的是不太合理的或者說是工件做的不太好
如果說工件使用不考慮圓度誤差只要求單一尺寸的話，可以使用光滑極限量規(guī)檢驗，當然光滑極限量規(guī)要合格的

如果尺寸公差與圓度誤差互不關聯(lián)，則對于軸來說真正起作用的尺寸是最小外接圓直徑，對于孔來說真正起作用的尺寸是最大內接圓直徑，光滑極限量規(guī)控制的正是這個尺寸。三坐標測量機是測量若干個測量點擬合的圓的直徑，比最大內接圓直徑大，這個直徑包含著圓度誤差對直徑的影響。正確的測量方法應該是以光滑極限量規(guī)測量結果作為尺寸合格與否的仲裁依據，以圓度儀或者三坐標測量機測量的圓度誤差作為形狀誤差合格與否仲裁的依據。
    另外，如果尺寸公差與圓度誤差存在最大實體要求，相互有補償，則光滑極限量規(guī)的測量結果是最終仲裁依據，三坐標測量機的測量結果不能作為仲裁依據。此時的光滑極限量規(guī)應該按最大實體要求進行設計。

應該以三坐標的檢測結果為準，使用光滑極限量規(guī)檢驗不太合理。

同意樓上意見
使用三坐標的檢測結果
因為是為了解決糾紛
三坐標更精準些

圓度誤差都有0.01mm了,已經是不合格的工件了吧?當然也要看你的加工方式和技術要求!
個人認為還是圓孔塞規(guī)檢驗合理,同意2#及5#的觀點!

是配合孔嗎？是的話，采信光滑極限量規(guī)。另外，不知道用坐標機怎么測的，孔的深度多少？可能的話做個實驗，在孔的圓柱范圍內采集若干點，擬合圓柱面，再計算最小內接圓柱直徑。這個直徑才是做配合孔要用到的直徑。

問題出在止規(guī)的尺寸上，止規(guī)不應與工件上差做的一樣，因為止規(guī)要通過需要與工件內孔有一定的間隙，間隙小的時候雖然止規(guī)不過但內孔尺寸已經超差。

個人感覺對于這樣的零件,即有精度要求，又有這么大的圓度,最好用塞規(guī)(氣動\電子\帶表)來檢測,這樣旋轉一周,你可以看到每個方向上的尺寸,對最大直徑,最小直徑都有一個準確的了解.對現(xiàn)場測量來說.效率也是比較高的.

應該以工件孔的用途要求來確定采用何種測量方式。

是否可考慮用測長機作標準？用來校驗方法，確定方法后再回歸原理

用三坐標測量機測量工件孔徑是非接觸測量，讀數(shù)誤差極大。像14#說的，改用測長機測量。

個人感覺可以分析一下不確定度，來選擇合適的計量器具

光滑極限量規(guī)應該按最大實體要求進行設計，所有應用光滑極限量規(guī)仲裁。

有一批工件的孔徑（Φ36 +0.025/0）采用了兩種方法進行測量。
測量方法一：用三坐標測量機測量，工件孔徑全部在Φ36.030mm左右，判定此批工件全部報廢。
測量方法二：用光滑極限量規(guī)檢驗，塞規(guī)止端尺寸為Φ36.025mm ...
王剛 發(fā)表于 2009-1-11 15:05

我認為工件應判超差。你用三座標檢測﹐孔徑為36.030﹐已經超差了。要知道這只是評價的平均值﹗﹗你測的圓度為0.01mm﹐則實際上該孔的最大值與最小值應該是相差個0.02mm(圓度為半徑值).也就是說這孔的最大值是要比36.03還要大的﹐而最小值則應孔會公差范圍以內。就是的所以塞規(guī)止端為什么不過的原因了。
   其實有時候靠塞規(guī)檢測是不準確的。我在生產中曾遇到過這種情況﹐工件孔做大了﹐止規(guī)過了﹐加工者會把工件給敲扁﹐要是盲孔的話只要將口部敲扁﹐那你用通止規(guī)就能測合格。還有﹐螺紋中徑做小了﹐用環(huán)規(guī)的止規(guī)檢通過了﹐油一些的加工者就將第一顆螺牙的牙距給敲一下﹐這樣因牙距變了﹐你用環(huán)規(guī)檢時﹐就可做到通規(guī)過止規(guī)不過了!該工件"就這樣修好了!"
   所以我認為只要三座檢得沒有問題我更相信三座標的。﹗﹗

我個人認為那是不合格的，應該以三坐標為準，你說塞規(guī)止段端可以止住，這樣的公差用塞規(guī)不太合適，關鍵你三坐標是量了幾個截面？圓拄度不行嗎？你的三坐標可以掃描圓嗎？樓上有說三坐標太慢，估計你沒用過，我們以前的公司因為閥空孔不知道報廢了多少，后來三坐標全檢，很快的``掃描的`跑個程式。

首先圓度0.01說明工藝方法肯定有問題，是尺寸公差的四分之一，偏大了些。如果是批量生產并且是保證裝配配合性質的話，建議使用光華極限量規(guī)。

我認為用光滑極限量規(guī)準確，但你的量規(guī)是不正確的，工件+0.025，量規(guī)不可能也+0.025，要比0.025小，具體是多少，你可以在光滑極限量規(guī)設計手冊上查。

如果是配合，采用光滑極限量規(guī)結果；三坐標測量得到是平均值

1# 王剛
個人看法：
    用光滑極限塞規(guī)來檢驗，那你的公差那么小，0。01mm，怎么能保證，塞規(guī)本身的一個公差再加上你檢驗時的磨損，你的塞規(guī)要多久檢定一次，三次元就不一樣，測量前自校一下就行。你說呢？

你要是看這批工件符不符合你圖紙的設計要求，那就應該以三坐標的數(shù)為準。如果你是看能不能使用就應該以塞規(guī)的判定為準。個人意見。

當然是判不合格了！按ASME Y 14.5M規(guī)則一的理解，不管是工件外部還是工件內部其每一個地方的尺寸都必須在尺寸公差范圍內，所以這個案例中雖然用極限量規(guī)判下來合格，但其還是超差了。

同意2#和5#的觀點，用光滑極限量規(guī)來仲裁，可是產品的圓度一定要好。既然產品公差是0.025，那么圓度誤差就應該控制是0.004以內，你的圓度誤差都有0.01的還怎么保證0.025的制造公差。