GB/T 5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗..高低溫低氣壓試驗設(shè)備

【 標準編號 】 GB/T 5170.10-2008
【 標準名稱 】 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備
【 英文名稱 】 Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products-Combined high and low temperature/low air pressure testing equipments 
【 發(fā)布單位 】 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗總局
【 批準單位 】 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗總局
【 發(fā)布日期 】 2008-06-16
【 實施日期 】 2009-03-01
【 開本頁數(shù) 】 15P
【 替代標準 】 GB 5170.10-1996
【 引用標準 】 GB 2423;idt IEC 60068-2:1981
【 起草單位 】 電子工業(yè)部第五研究所
【 起 草 人 】 伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國光