SJ 20348-93低副瓣平板裂縫天線性能遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試方法

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 SJ 20348-93
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 低副瓣平板裂縫天線性能遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試方法  
【 英文名稱 】 Methods of far-field measurement for planar waveguide-fed slot arrays with low sidelobes
【 發(fā)布單位 】 中華人民共和國(guó)電子工業(yè)部
【 批準(zhǔn)單位 】 中華人民共和國(guó)電子工業(yè)部
【 發(fā)布日期 】 1993-5-11
【 實(shí)施日期 】 1993-7-1
【 開(kāi)本頁(yè)數(shù) 】 14P
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 SJ 2534.4-85; SJ 20347-93
【 起草單位 】 電子工業(yè)部第十四研究所
【 起 草 人 】 方同城; 龔至澤; 劉文華