SJ 20400-94低副瓣平板裂縫天線性能近場測試方法

【 標(biāo)準(zhǔn)編號 】 SJ 20400-94
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 低副瓣平板裂縫天線性能近場測試方法  
【 英文名稱 】 Methods of near-field measurement for planar waveguide-fed slot arrays with low sidelobes
【 發(fā)布單位 】 中華人民共和國電子工業(yè)部
【 批準(zhǔn)單位 】 中華人民共和國電子工業(yè)部
【 發(fā)布日期 】 1994-9-30
【 實(shí)施日期 】 1994-12-1
【 開本頁數(shù) 】 18P
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 SJ 20348-93; SJ 20347-93
【 起草單位 】 電子工業(yè)部第十四研究所
【 起 草 人 】 李俊沛; 陸祥林; 王寶艾; 張曉燕