檢定卡尺的刻線寬度的問題

檢定規程上說檢定刻線寬度選用讀數顯微鏡的話最大允許誤差的絕對值MPEV:10μm，那么選擇的標準器的示值誤差是不是不能超過20/3μm？如果標準器選擇測量顯微鏡的話，考慮市面上上光的15JF數顯測量顯微鏡，參數指標給的示值誤差是5+L/15μm，L是被測件的長度（mm）。我有2個問題想向各位前輩請教：
（1）這個L是指被測件整個的長度還是僅僅是在物鏡視野范圍之內的長度，如果是被測件整個的長度那么示值誤差不是遠遠大于20/3mm了嗎？
（2）這里我選的是讀數顯微鏡的MPEV，實際上工具顯微鏡的MPEV是3μm，但是如果用測量顯微鏡檢定，那么選哪一個MPEV啊？也就是問測量顯微鏡與這兩種儀器的區別和聯系。

　　我認為你的概念太模糊了。你一定要搞清楚你的被檢對象是什么，你用的測量設備是什么。也就是說一定要搞清楚你要測量什么，用了什么工具進行測量。
　　你的標題是“檢定卡尺的刻線寬度的問題”，因此你的被檢對象是卡尺刻線寬度，JJG30-2012規定使用的工具（測量設備）按檢定規程規定是工具顯微鏡或者讀數顯微鏡。對被檢對象分度值0.02mm的卡尺刻線寬度為(0.08～0.18)mm，同一件卡尺的刻線寬度差（被測對象的控制限T）不超過0.02mm。使用的測量設備最差的是讀數顯微鏡，其MPEV＝10μm＝0.010mm，所用測量設備的MPEV約等于測量方法的不確定度U。U/T＝0.010÷0.10＝1/10＜1/6，因此讀數顯微鏡可用來檢定卡尺刻線寬度，工具顯微鏡的MPEV＝3μm＜10μm就更沒問題了。
　　可能有人會問為什么我用了1/6沒有用1/3？1/3原則指的是不大于1/3，一般取1/3～1/10，測量風險越大越趨于選擇1/10。檢定/校準活動的風險遠大于一般產品的檢驗，因此應選擇1/6，但控制限T（幾何量計量叫公差）是最大允差絕對值的MPEV的2倍，所以JJF1094也就取U/T≤1/6，并進一步改寫成U/MPEV≤1/３。
　　如果你要檢讀數顯微鏡而不是檢卡尺，那就應該查JJG571。分度值0.01mm的讀數顯微鏡示值允差MPEV＝10μm＝0.01mm，控制限T＝0.02mm。規程規定檢定讀數顯微鏡示值誤差使用的測量設備是專用玻璃刻度尺，分度值為0.1mm的專用玻璃刻度尺是最差的，其測量不確定度U＝0.5μm＝0.0005mm。U/T＝0.0005/0.02=0.025＜1/6（用MPEV計算是U/MPEV＝0.0005/0.01＝0.05＜1/3）。工具顯微鏡的MPEV是3μm，你“用測量顯微鏡檢定”，不知你說的測量顯微鏡是不是MPEV為10μm的讀數顯微鏡，如果是，就相當于用鋼卷尺檢定游標卡尺那么荒謬了。
　　要記住1/3原則指的是被檢參數測得值的不確定度U除以所用測量工具的控制限T是不大于1/6，或被檢參數測得值的不確定度U除以所用測量工具的MPEV是不大于1/3，也可以近似地看作為被檢儀器的MPEV除以為檢定它而使用的測量設備的MPEV不大于1/3。

哪里可以買到符合規程上粗糙度量塊啊？

新手試著解答，請樓下評論：
    （1）因為你要測刻線的寬度，那L肯定就是刻線的寬度值了。不是被測件整個的長度或物鏡視野范圍之內的長度。
    （2）這是三種不同的顯微鏡。 之間沒關系

wujiuniu 發表于 2016-3-29 08:31
新手試著解答，請樓下評論：
    （1）因為你要測刻線的寬度，那L肯定就是刻線的寬度值了。不是被測件整個 ...

我開始也是你這樣認為L是刻線寬度的，后來了解到L實際上是行程范圍，對于測量顯微鏡就是在X軸和Y軸的范圍之間

Thaini 發表于 2016-4-1 13:23
我開始也是你這樣認為L是刻線寬度的，后來了解到L實際上是行程范圍，對于測量顯微鏡就是在X軸和Y軸的范圍 ...

是嗎  學習了

Thaini 發表于 2016-4-1 13:23
我開始也是你這樣認為L是刻線寬度的，后來了解到L實際上是行程范圍，對于測量顯微鏡就是在X軸和Y軸的范圍 ...

我理解的是L是測量的范圍，你所表示的是儀器全量程的誤差，5+L/15μm是誤差的線性表達方式，不矛盾啊，你要測的是刻線寬度，比如0.5mm，這里的L就是0.5mm，請樓下指正！