請教：用平面平晶檢千分尺的平面度，怎么判斷是否合格？

如干涉條紋平直，相互平行,且分布均勻,則表示被測表面的平面度很好；如干涉條紋彎曲，則表示平面度不好。其誤差值為f= (v/ω)×(λ/2)

1. 因?yàn)閷?shí)際操作的時(shí)候，也不方便測v及ω，那么怎么能得到誤差值呢？

2. 平晶放在測量面上時(shí)，是緊貼好，還是有點(diǎn)傾斜的好，我操作起來，是一會有條紋，一會沒有，條紋也是一會多、窄，一會少、寬。總覺得操作上不得要領(lǐng)。應(yīng)該怎么操作是正確的呢？？在什么現(xiàn)象認(rèn)為條紋可以應(yīng)用呢？？

回復(fù) 17# ydq


    你的意思是長度單位了，謝謝！

回復(fù) 1# 藍(lán)豬


    1.  精確計(jì)量應(yīng)該用單色光照明，并測量條紋參數(shù)；
    2.  應(yīng)該是貼緊、平行為好！

回復(fù) 2# 星空漫步
條紋參數(shù)怎么測得呢？？

用平面平晶測量千分尺測量面的平面度，目測即可。干涉條紋的彎曲度與條紋間距的比值是可以估讀出來的，目測不能讀出精確的值，是一個(gè)大概的值。觀測時(shí)要調(diào)整平晶與千分尺工作面的位置，盡量使干涉條紋條數(shù)少，以利于讀數(shù)。

如果不把測砧拆下來，還真是只能目測個(gè)大概值。

還是要學(xué)習(xí)，很多東西都沒看懂!

知道了，謝謝前輩們。

感覺樓主和我剛剛用平晶是一樣滴 當(dāng)時(shí)我?guī)煾到o我找了一塊廢量塊 讓我反復(fù)在平晶上面研和 慢慢的就能研出穩(wěn)定的干涉條紋了 還是要多練習(xí)
那個(gè)條紋我們一般是用眼睛估計(jì)一下的

注意事項(xiàng)：
1.被測表面和平晶工作面要嚴(yán)格擦拭干凈；
2.以單色光最好，日常測量中用自然光也可以。單色光干涉條紋是黑白相間，自然光干涉條紋是彩色的；
3.測量時(shí)，平晶工作面靠近被測表面某條邊，逐漸向?qū)叿较驂合沦N攏，注意干涉帶條文變化，平晶上以出現(xiàn)3條干涉帶時(shí)讀數(shù)為佳；
4.干涉帶中間遠(yuǎn)離一開始平晶與被測表面接觸的邊線，被測表面呈中間凸，反之被測表面中間凹；
5.憑眼力估讀V和W，按計(jì)算公式計(jì)算被測表面平面度誤差大小，出現(xiàn)完整的干涉環(huán)，應(yīng)該數(shù)干涉環(huán)的環(huán)數(shù)，V/W以環(huán)數(shù)代入公式計(jì)算平面度誤差。

用平面平晶測量千分尺測量面的平面度，目測即可。干涉條紋的彎曲度與條紋間距的比值是可以估讀出來的，目測不能讀出精確的值，是一個(gè)大概的值。觀測時(shí)要調(diào)整平晶與千分尺工作面的位置，盡量使干涉條紋條數(shù)少，以利于讀數(shù)

用平晶以技術(shù)光波干涉法檢定測量面平面度時(shí)，出現(xiàn)的干涉條紋，其干涉原理是等厚干涉。干涉條紋的形狀一般有直線、圓形和弧形三種。直線形干涉條紋或沒有條紋說明被檢工作面非常平整。圓形干涉條紋說明被檢工作面為球面，中凸或中凹點(diǎn)在工作面的中心，判斷凹凸的方法是用手輕壓平晶中央，如干涉條紋向內(nèi)跑即為中凹，向外跑即為中凸。平面誤差按干涉條紋的圈數(shù)n乘以半個(gè)光波波長λ/2計(jì)算。一般白光λ為0.6um。如圓形干涉條紋最外圈是對稱的半圓形，則兩條對稱半圓形條紋按一圈計(jì)算。如只有一條不對稱的半圓形條紋，也按一圈計(jì)算。如干涉條紋為平行的弧形條紋，則按通常的方法，取條紋彎曲量a與條紋間隔b的比值再乘以λ/2作為平面度誤差值。判斷平面的凹凸情況的方法為：將平晶先與測砧（zhen）邊緣接觸，再慢慢與平面貼合，如干涉條紋遠(yuǎn)離接觸點(diǎn)的方向彎曲（條紋中間離接觸點(diǎn)比兩端遠(yuǎn)），則為凸面，相反為凹面。

如干涉條紋平直，相互平行,且分布均勻,則表示被測表面的平面度很好,此時(shí)想知道平面度誤差是多少呢?如我檢測千分尺平面度有10條以上的均勻平直的干涉條紋,此時(shí)記錄平面度誤差是0還是其它數(shù)值?

回復(fù) 12# hblgs2004

　　檢測千分尺平面度有10條以上的均勻平直的干涉條紋時(shí)，因?yàn)楦缮鏃l紋過多不利于肉眼的分辨，輕微的干涉條紋彎曲無法識別。此時(shí)應(yīng)調(diào)整平晶與被檢工作面的接觸狀態(tài)，減少干涉條紋數(shù)量，以出現(xiàn)3條左右干涉條紋時(shí)估讀條紋彎曲量與條紋間距的比值為最佳，如果仍然表現(xiàn)為干涉條紋呈相互平行的直線，就應(yīng)該判定被檢工作面平面度誤差為0。

回復(fù) 1# 藍(lán)豬


    1.  用光波干涉法測平面度時(shí)，必須估讀你談及的v及ω（v為干涉帶彎曲量，ω為干涉帶間的間距），否則你無法代入你談及的計(jì)算公式f= (v/ω)×(λ/2) ，以計(jì)算得出被測面的平面度；

    2.  平晶放在被測量面上時(shí)，應(yīng)使平晶工作面與被測量面間有一個(gè)楔角，這樣就不會出現(xiàn)你談及的“是一會有條紋，一會沒有，條紋也是一會多、窄，一會少、寬”了。另外，此測量過程的時(shí)間不宜過長，否則，手溫對平晶的影響是很大的（必須戴手套），另外在測量時(shí)，盡量避免平晶在被測平面上反復(fù)接觸移動，以免劃傷平晶工作面。

   3.  某位帖子中所談及的“以出現(xiàn)3條左右干涉條紋時(shí)估讀條紋彎曲量與條紋間距的比值為最佳”，這是明顯錯(cuò)誤的說辭。這瞎講一氣的“左右”，必然包括了2條或4條，而正確的干涉條紋數(shù)量應(yīng)為“3或5條”，也就是只能為3條或者5條（奇數(shù)），不可以有4條（不能描述為3～5條，或2條），以保證中間干涉條紋通過被測平面的最大直徑，所以，測量過程的文字描述是非常嚴(yán)謹(jǐn)?shù)模莶坏媚承┤说男趴陂_河。

   4.   被測平面平面度的凹凸評定，11樓談?wù)摰氖钦_的，你可以慢慢理解、體會。

        個(gè)人看法，僅供參考。

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v為干涉帶彎曲量，ω為干涉帶間的間距，間距肯定是用長度單位，請問彎曲量是用長度單位還是弧度單位？

回復(fù) 16# hblgs2004


    彎曲量是干涉帶彎曲的程度，是瞄準(zhǔn)其兩個(gè)位置的估計(jì)量（或讀數(shù)差），怎么會是弧度單位呢？

敲敲打打 發(fā)表于 2014-6-21 19:23
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請問一下這本是什么書名？，能否分享一下這張清晰圖片，圖片不清晰