厚薄規的校準

呵呵,斑竹謙虛呀,您不過百密而一疏罷了.

我公司的
1.以外徑測微器為標準器。
2校驗點10片每片一點。
3允許公差為±0.005mm。
4以外徑測微器量取每片讀值，以此讀值減標稱值即為器差，將量測讀值與器差記錄于儀器校驗報告書上

塞尺是用于檢驗間隙的測量器具之一

塞尺又稱測微片或厚薄規。使用前必須先清除塞尺和工件上的污垢與灰塵。使用時可用一片或數片重疊插入間隙，以稍感拖滯為宜。測量時動作要輕，不允許硬插。也不允許測量溫度較高的零件。

塞尺并不是一種精密量具，用千分尺檢驗一下就行。

檢測時用其中之一塞入零件之間必須20mm左右，不松不緊就是合適的間隙。


上面的內容是我公司內部的中級鉗工的培訓資料，天啊！！今天我才發現誤人子弟啊！！

原帖由 CATIAUser 于 2007-6-15 13:29 發表
檢測時用其中之一塞入零件之間必須20mm左右，不松不緊就是合適的間隙。

你這句話有毛病，塞尺最厚的一片是多少尺寸。

0級的塞尺0.02～0.1mm范圍的使用中允許偏差只有±3μm 0級的千分尺的允許偏差也達到了±2μm再考慮到測量中其他因素影響，如果做不確定度評定的話，肯定無法達到要求，所以我感覺用千分尺校準是不可行的。

原帖由 ctctan1983 于 2007-6-21 10:48 發表
0級的塞尺0.02～0.1mm范圍的使用中允許偏差只有±3μm 0級的千分尺的允許偏差也達到了±2μm再考慮到測量中其他因素影響，如果做不確定度評定的話，肯定無法達到要求，所以我感覺用千分尺校準是不可行的。 ...

塞尺沒有0級。塞尺大部分測量范圍是0.02～1.00mm。

感謝斑竹糾正，我沒有認真核對規程，只是憑印象回帖，十分汗顏。