YB/T 172-2000硅磚定量相分析 X射線衍射法

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 YB/T 172-2000
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 硅磚定量相分析 X射線衍射法  
【 英文名稱 】 Phase quantitative analysis of silica bricks—X-ray diffraction method
【 發(fā)布單位 】 國家冶金工業(yè)局
【 批準(zhǔn)單位 】 國家冶金工業(yè)局
【 發(fā)布日期 】 2000-7-26
【 實(shí)施日期 】 2000-12-1
【 開本頁數(shù) 】 7P
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 JJG/T 629-1989
【 起草單位 】 洛陽耐火材料研究院; 北京焦化廠山西盂縣西小坪耐火材料有限公司
【 起 草 人 】 任剛偉; 張慧榮; 高宣鉉; 趙孟喜