太赫茲光譜和功率計(jì)量研究進(jìn)展

作　　者：鄧玉強(qiáng) 孫青 于靖
機(jī)構(gòu)地區(qū)：中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院光學(xué)所,北京100013
摘　　要：介紹太赫茲光譜和功率參數(shù)的計(jì)量方法，報(bào)導(dǎo)了中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院在太赫茲計(jì)量領(lǐng)域的工作進(jìn)展。對(duì)于太赫茲光譜儀的校準(zhǔn)，利用回波校準(zhǔn)技術(shù)提高了太赫茲光譜儀的校準(zhǔn)不確定度；對(duì)于太赫茲功率計(jì)量，自主研制了高吸收率太赫茲吸收涂層和太赫茲輻射熱計(jì)，實(shí)現(xiàn)了太赫茲輻射功率溯源至國(guó)家激光功率基準(zhǔn)。該研究為促進(jìn)太赫茲技術(shù)發(fā)展提供量值溯源需求和準(zhǔn)確測(cè)量技術(shù)保障