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計量論壇

標(biāo)題: 關(guān)于便攜式表面粗糙度儀的校準(zhǔn)問題 [打印本頁]

作者: 真可樂 時間: 2009-5-11 12:35
標(biāo)題: 關(guān)于便攜式表面粗糙度儀的校準(zhǔn)問題
本帖最后由真可樂于 2009-5-11 13:02 編輯

有一臺德國產(chǎn)Pocket Surf的馬爾觸針式便攜式表面粗糙度儀，針尖半徑為10um，測量范圍Ra0.03-6.35um。按照儀器所帶的標(biāo)準(zhǔn)樣件是3.05um，我們公司每年一次的內(nèi)部校準(zhǔn)結(jié)果出來是好的。但是客戶要我們將儀器送到計量所校準(zhǔn)，結(jié)果相對示值誤差超過15%，好象是在0.074um校準(zhǔn)樣板超標(biāo)，在另外的0.344um和4.33um標(biāo)準(zhǔn)樣板校準(zhǔn)是符合15%的要求。我們的標(biāo)準(zhǔn)樣件也是通過計量所校過的。難道是我們不能用儀器所帶的標(biāo)準(zhǔn)樣件進(jìn)行校準(zhǔn)？還是計量所校準(zhǔn)有其它問題？請專家指教！

作者: 趙志華 時間: 2009-5-11 20:47
應(yīng)該和計量所檢測方法統(tǒng)一，可以請教一下計量所

作者: Lishu 時間: 2009-5-12 14:14
可能是針尖磨損吧，你說的情況就是在大的粗糙值下測量是合格，在測量非常小的粗糙度值時就不行，你的標(biāo)準(zhǔn) 樣件是3.05um，示值沒問題。0.074um是很小的值，對測針的要求就高，有一點磨損就不行了

作者: cnydyq 時間: 2009-5-13 13:15
如果確認(rèn)自已檢測的結(jié)果正常,可以和計量所溝通一下..是不是采用的方法不一致?在確認(rèn)方法都沒問題的情況下,再檢查機(jī)器自身可能的問題...

作者: 深圳漁民 時間: 2009-5-14 17:23
測針半徑10微米，用來測量Ra0.1以下有點勉為其難，一般測不準(zhǔn)，用你們的儀器測出來的值應(yīng)該偏小。不是誰對錯問題，你的儀器不要測量Ra0.1以下就是。

作者: 真可樂 時間: 2009-5-15 15:19
本帖最后由真可樂于 2009-5-15 15:33 編輯

測針半徑10微米，用來測量Ra0.1以下有點勉為其難，一般測不準(zhǔn)，用你們的儀器測出來的值應(yīng)該偏小。不是誰對錯問題，你的儀器不要測量Ra0.1以下就是。 ...
深圳漁民發(fā)表于 2009-5-14 17:23

我們的儀器是Mahr，我這里有二張儀器的說明圖片你看看，校準(zhǔn)的測量點取多少？要用那種規(guī)格的標(biāo)準(zhǔn)樣板？儀器本身自帶的標(biāo)準(zhǔn)樣板規(guī)格是3.05um。就用這個可以校準(zhǔn)嗎？另外不同規(guī)格的標(biāo)準(zhǔn)樣板所用的取樣長度應(yīng)該是不一樣的。計量所用的是0.074um、0.344um和4.33um多刻線標(biāo)準(zhǔn)樣板，測量采用的是用同樣的檔位（相同的取樣長度）來測量校準(zhǔn)樣板？我懷疑它們有錯？如果要測量Ra0.1um 以下產(chǎn)品應(yīng)該用半徑多少大的測頭？

2009-05-15_152015.jpg (23.33 KB, 下載次數(shù): 136)

2009-05-15_152049.jpg (18.78 KB, 下載次數(shù): 156)

作者: jacksilver 時間: 2009-5-15 22:53

可能是針尖磨損吧，你說的情況就是在大的粗糙值下測量是合格，在測量非常小的粗糙度值時就不行，你的標(biāo)準(zhǔn) 樣件是3.05um，示值沒問題。0.074um是很小的值，對測針的要求就高，有一點磨損就不行了 ...
Lishu 發(fā)表于 2009-5-12 14:14

同意，粗糙度儀的針尖必須在其測量方向上連續(xù)不斷地觸及被測物體表面上的高點（峰）和低點（谷），這就需要針尖半徑小于一定值（視被測表面加工方法而要求有所不同）才能達(dá)到此目的。對于Ra0.074um的表面，峰和谷之間的間隙非常小，這就需要你的粗糙度儀的針尖至少比這個間隙還要小才能使針尖觸及谷底。磨損的針尖不能完全觸及谷底就造成了測量結(jié)果偏小。而Ra值相對較大的表面峰谷之間的間隙相對比較大，測量誤差相對就比較小。所以建議不要測量較光滑的表面或者干脆更換測針。

作者: dishui-01 時間: 2009-5-21 01:46
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作者: Lishu 時間: 2009-5-21 09:56
測針半徑10um有點大了，一般的測針半徑是5um，有些是2um的

作者: whcjk 時間: 2009-5-21 16:50
真正校準(zhǔn)用多刻線樣板，他是一組，而生產(chǎn)廠帶的樣板指示一個規(guī)格，不能全面反映儀器的錯狀態(tài)，而且樣板也要每年檢定定值，你的樣板經(jīng)過檢定了么？

作者: 劉三變 時間: 2009-5-21 22:42
本帖最后由劉三變于 2009-5-21 22:44 編輯

如樓上所說，應(yīng)該用多刻線樣板的，一組包括0.4~3.2（比如說），你有一個標(biāo)準(zhǔn)件，但是你只檢3.05的粗糙度吧，不止吧，所以說，要用一組來檢定。你檢定自帶標(biāo)準(zhǔn)件是合格（因為你只檢了3.05），而計量檢定是不合格的（因為他檢定了一組值），很正常，
只是把樓上的再進(jìn)一步說下，呵呵

作者: 真可樂 時間: 2009-5-22 08:13

真正校準(zhǔn)用多刻線樣板，他是一組，而生產(chǎn)廠帶的樣板指示一個規(guī)格，不能全面反映儀器的錯狀態(tài)，而且樣板也要每年檢定定值，你的樣板經(jīng)過檢定了么？ ...
whcjk 發(fā)表于 2009-5-21 16:50

儀器自帶的樣板是每年送計量所校準(zhǔn)過的

作者: 真可樂 時間: 2009-5-22 10:52
本帖最后由真可樂于 2009-5-22 11:21 編輯

真正校準(zhǔn)用多刻線樣板，他是一組，而生產(chǎn)廠帶的樣板指示一個規(guī)格，不能全面反映儀器的錯狀態(tài)，而且樣板也要每年檢定定值，你的樣板經(jīng)過檢定了么？ ...
whcjk 發(fā)表于 2009-5-21 16:50

根據(jù)校準(zhǔn)規(guī)范對相對示值誤差的要求，

如果儀器的相對示值誤差±15%的話，測量頭的半徑是10um的。應(yīng)該選用那些規(guī)格的多刻線表面粗糙度樣板來校準(zhǔn)？上次送上級計量所用的是0.074um、0.344um和4.33um多刻線標(biāo)準(zhǔn)樣板，不知道是否有問題？

作者: zhx730621 時間: 2009-5-23 14:54
測量頭的半徑大小直接影響測量結(jié)果

作者: Lishu 時間: 2009-5-31 17:28
本帖最后由 Lishu 于 2009-5-31 17:30 編輯

13# 真可樂
這個問題建議聯(lián)系下校準(zhǔn)規(guī)范的制定單位和相關(guān)起草人咨詢，有答案在這里分享一下，我也想知道結(jié)果。

作者: slammgg 時間: 2009-6-21 11:42
計量所！校準(zhǔn)方法是沒錯的！

作者: 羅志權(quán) 時間: 2009-6-22 22:41
同一臺儀器在不同的測量點其測量精度是不一樣的，樓主用儀器自帶的標(biāo)準(zhǔn)樣塊在3.05um處內(nèi)校合格并不意味著在0.074um處儀器也合格（哪怕沒有測頭因素的影響），這也是校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)樣塊要成的原因。其他還有自帶樣塊均勻性、測量不確定度等方面的影響。
探討：lzq1866@163.com

作者: 東莞三本 時間: 2009-9-9 16:49
震動考慮了嗎？測量這么小的范圍，機(jī)器也那么的小，。周圍的環(huán)境怎么樣的？震動對測量也有影響哦！~

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